世界上*小巧的 2.048 Mbit/s 全功能传输测试仪表之一。 SunLite E1 可完全满足 2.048 Mbit/s 传输测试所需的所有功能。功能强大、经济实用、结构小巧的 SunLite E1 可轻松的放置于你的口袋中。
功能特点
• 2.048 Mbit/s 发送, 接收以及 外部时钟
• 比特误码率测试 (ITU-T G.821)
• ITU-T G.826 , M.2100 分析
• 电平及频率测试
• +6 到 -43 dB 接收端输入灵敏度
• 端接, PMP ( 监测 ) , 高阻模式
• 插入和提取能力 (N 或 Mx64k)
• 可编程 NFAS 字
• CAS 信令
• 直方图分析
• 传输时延
• VF 监测和分析
• 可存储*多 10 个测试结果和 10 个测试配置
• 75Ω 和 120Ω 模式
• 由现场可更换的 NiMH 电池组供电工作
性能指标
• 连接器 / 端口
2.048 Mbit/s E1 接口:Tx , Rx , 外部时钟
标准: BNC (f) , 75Ω 非平衡连接端口
可选: BR2 (f) 120Ω 平衡连接端口; Bantam (f) 120Ω 平衡连接端口
串口: RS-232/V.24 , RJ11 , 6- 芯连接端口
充电器端口: 1 mm , DC 插孔
• 状态 / 告警指示
13 个高亮的 LED 指示灯
当前和历史状态告警指示
信号: 红, 无信号; 绿, 信号正常; 红闪烁, 历史记录 PCM-30 ( 双色 ) , CRC-4 ( 双色 ) , SYNC ( 双色 )
TX : 常绿, 发送端激活; 在自环模式下状态为绿闪烁; 关闭, 发送端未激活
RUN : 绿, 测试正在运行; 关闭, 测试停止
RAI :红, MFAS RAI 或 FAS RAI ;红闪烁,历史纪录
AIS :红, AIS ;闪烁,历史纪录
CODE :红,编码误码;闪烁,历史记录
ERROR :红, CRC-4 , E- 比特, FAS E ;闪烁,历史记录
BIT :红,逻辑比特误码;红闪烁,历史纪录
Power/ 电池电量低:缓慢绿闪烁,开机 & 电池电池满电量;常绿,电池正被充电;红,电池电量低
E1 通用指标
• 比特误码率测试: 2.048 Mbit/s , N ( 连续 ) 和 M ( 非连续 ) x 64kbit/s (N & M=1 到 31)
• 插入和提取 N 或 Mx64 kbit/s 信号于内部测试电路 μ/A- 率解码 VF 通道到内置的扬声器
• 线路编码: HDB3 & AMI
• 帧结构:非成帧, PCM-30 , PCM-30C , PCM-31 , PCM-31C 符合 ITU-T G.704
• 测试码样发生器
通用 : 1111... , 0000... , 1010... , RICAR 3
PRBS : 2 n -1 , n= 9 , 11 , 15 , 23. 。 符合 ITU-T O.151 , O.152 , O.153 , 和 ANSI V.52 , V.57
可编程: 3 个测试码样,每个*高 16 比特长
测试码样反转
• 发送端:
时钟源
内部时钟: 2.048 MHz ± 25 ppm
接收端:锁定被接收信号
外部:锁定参考时钟输入信号
• 线路编码: HDB3 & AMI
• 脉冲波形:符合 ITU-T G.703. 75Ω/ 非平衡 ±2.37 Vbp (±10%)
• 可编程时隙 0 :可编程上回环 / 下回环编码,可编程 NFAS 字
• 设置空闲通道编码和 ABCD 比特 (IDLE/NOT IDLE 状态 )
• 可设置发送信号源打开 / 关闭或内部回环
• 误码注入
比特,编码 ( 单个或比率 1x10 -7 到 1x10 -2 )
比特 + 编码 ( 单个或比率 1x10 -7 到 1x10 -3 )
CRC-4 ,帧误码, E- 比特 ( 单个 )
0-128 比特零注入,以 8 比特为步长
• 接收端
频率范围: 2.048 Mbit/s ± 6000 bit/s 用于 SLE1
• 输入灵敏度
端接 Hi-Z : 6 到 -43 dB 带自动线路补偿 (ALBO)
监测: -20 dB 电阻衰减和 -6 dB 电缆衰减
帧结构自动配置 (PCM-30 , PCM-30C , PCM-31 , PCM-31C ,非成帧 ) ,以及测试码样
• 阻抗
端接, 监测: 75Ω 非平衡
Hi-Z : >2000Ω
• 回损性能符合 ITU-T G.703
• 抖动容限符合 ITU-T G.823
• 外部时钟接口
输入阻抗: 75Ω 非平衡
输入灵敏度: -20 dB 电阻衰减和 -6 dB 电缆衰减
线路编码: HDB3 & AMI
• 测试
E1 信号电平: +0 到 -43 dB 分辨率: 1 dB
频率测试 (Hz & ppm) : 可选则频率分辨率 (1Hz , 0.1Hz 和 0.01Hz) 当前,*大, *小值
时钟滑步计数
编码误码: 误码计数和比率
帧误码: FAS 和 CRC-4 误码计数和误码率
告警计数: LOS , 同步丢失 (SYLS) , LOF , AIS , FAS RAI , 和 MFAS RAI 秒
比特误码: ITU-T G.821 分析带有配置信息,可编程 HRX%
ITU-T G.826 测试
ITU-T M.2100 测试 ( 符合 M.2101)
E- 比特误码: 误码计数和比率
• 设置和测试结果打印
可编程测试周期
可编程打印时间间隔: NOW , 5 分, 15 分, 1 小时, 24 小时, LAST , EVENT , OFF
时间标签事件打印
可设置延时计时器*高到 99 小时, 59 分 .
告警提示音: 标识一个误码或告警, 可编辑打开 / 关闭
告警生成: AIS , FAS RAI , MFAS RAI
• 其它测试
可存储 10 个测试结果,可通过屏幕浏览或被打印,用户定义标签
直方图分析:G.821 基本测试,周期*高 60 天直方图:分辨率为 1 天, *后 24 小时直方图:分辨率 1 分钟,可保存 2 个直方图记录;当前的和被存储的
传输时延测试单位为 UI & μs , 1 μs 分辨率
范围: 从 100 μs 到 10 秒
观测接受到的数据
• VF 语音频率测试能力
通过内置的麦克风 / 扬声器进行讲 / 听
压扩率: A- 率或 μ- 率 ( 可选 )
监测和 CAS 模式
对于所选则的时隙可显示 ABCD 比特
CAS 信令监测 (IDLE/NOT IDLE 状态 )
在所选则的时隙可设置 ABCD 比特为 1 或 0
可设置 CAS 状态为 IDLE/NOT IDLE
可设置空闲信道编码
• 帧字设置
可独立设置所有 40 比特的 Sa 比特读, 写
可选则环回 / 释放命令
可设置上回环 / 下回环 Sa4-8 比特编码或发送码样
SLE1-01 时钟偏移测试
• 发送端
可设置频率到 2.048 Mbit/s ± 24 , 400 ppm : 2.048 MHz
精度: ± 2 ppm ( 经外部校准后 )
•接收端
频率范围: 2.048 Mbit/s ± 24 , 400 ppm
•其它测试: 自动应激测试,自动确定接收设备捕获频率范围的上限和和下限
•SLE1-02 VF 语音频率测试
VF 测试: 50 Hz 到 3950 Hz , 1 Hz 分辨率; +3 dBm0 到 -60 dBm0 , 1 dB 分辨率
发送 / 接收测试音: 50 到 3950 Hz , 分辨率 1 Hz ; +3 到 -60 dBm0 , 分辨率 1 dB
噪音 (S/N , 加权噪音, 3K) 电平测试: +3 到 -60 dBm0
被选定时隙的正弦信号的数字化表示符合 ITU-T G.711 的 A- 率和 μ- 率解码
编码器偏移和峰值编码测试
通用指标
•可存储并重新调用 10 个配置文件
•122x32 点 (4x20 字符, 6x8 点阵规格 ) 带有背景光的图形化 LCD 显示屏
•内部电池: NiMH
•电池工作时间: 4 小时, 发送端口关闭
•仪表充电时间: 7 小时
•充电器: 5V @ 2A , 90 到 265 VAC , 50-60 Hz
•打印机 / 通讯端口: RS-232 , RJ11 , 6- 芯异步
•语言选择:英语, 意大利语, 法语, 德语
•环境指标
工作温度: 0 ℃ 到 50 ℃
存储温度: -20 ℃ 到 +70 ℃
相对湿度: 5% 到 90% 非冷凝
•仪表规格: 175 mm (l) x 75 mm (w) x 35 mm (d)
•重量: 0.4 kg