简单介绍：
BA1500/1600误码率测试仪
详情介绍：
主要特点和优点
- 支持*高1.6Gb/s 数据码型发生/ 误码检测，快速、**地对数据通信系统进行参数测试
- PRBS或者8Mb长度用户自定义码型可以灵活的调试和验证任何数字信号
- 内建极**的时钟源
- 可调节幅度、偏置、逻辑阈值和端接等参数，为接收机测试提供灵活多样的信号激励
- 差分或单端IO 确保满足所有通信总线标准
- BitAlyzer® 误码分析快速理解被测系统的误码率极限、评估确定性和随机性误码，详细的码型相关误码分析，进行突发(Burst)分析以及无误码时间间隔分析等
- 自动化眼图测量和快速眼图模板测试提供了对被测系统快速的信号完整性分析
- ANSI 标准的抖动测量 (RJ、DJ 和TJ)，能够测量BER 在10-12时的TJ 和RJ
- 支持Q 因子分析，揭示眼高和BER 之间的关系
- BER 轮廓揭示眼图和BER 的关系，可以将轮廓导出为眼图模板
- 内建的前向误码纠错 (Forward Error Correction) 可以仿真通信系统FEC 设计的性能
- 误码定位及分析 (Error Maping) 揭示信号出现误码的位置和原因
主要应用
- 半导体性能参数验证
- 进行眼图模板、BER 和抖动测试
- 卫星通信系统功能测试
- 无线通信系统功能测试
- 光线系统或模块测试
- 前向误码纠错(Forward Error Correction)评估
性能
码型发生器
| 性能指标 | 描述 |
|---|---|
| *大频率 | |
| BA1500 | 1500 MHz (1.5 GHz) |
| BA1600 | 1600 MHz (1.6 GHz) |
| *小频率 | |
| 内部时钟 | 800 kHz |
| 外部时钟 | 100 kHz |
| 外部时钟/ 码型使能 | SMA |
| 配置 | 单端 |
| 阈值 | –2 V to +4 V |
| 端接电压 | –2 V to +3.3 V |
| 时钟/ 数据输出 | SMA |
| 配置 | 差分 |
| 幅度 | 70 mV to +2 V |
| 偏置 | –1.85 V to +3.85 V |
| 预设逻辑种类 | PECL/LVPECL/LVDS LVTTL/CML/ECL |
| 上升/ 下降时间 | <130 ps *1 |
| 延迟范围 | 30 ns 或1 UI |
| 延迟分辨率 | 0.1% UI or 1 ps |
| 触发输出 | BNC |
| 类型 | CLK/64 或码型 |
| 码型定位 | 可编程 |
| 幅度 | >1 V |
| A/B 码型page 切换 | BNC |
| 阈值 | TTL |
| 数据种类 | |
| 伪随机 |
x7 + x6 + 1 x15 + x14 + 1 x20 + x17 + 1 x23 + x18 + 1 x31 + x28 + 1 |
| 用户自定义 |
96 位字长 - 8 Mb 2-4 Mb A/B 页面 32 位字长 |
| 插入误码 | |
| 长度(比特) | 1, 2, 4, 8, 16, 32, 64, 128 |
| 频率 | 单次或重复 |
*1 上升/ 下降时间在PECL 逻辑家族设置下测量(20% - 80%)。
检测器
| 性能 | 描述 |
|---|---|
| *大频率 | 1600 Mb/s |
| *小频率 | |
| BER 测试 | 100 Kb/s |
| 自动优化眼图 | 70 Mb/s |
| 物理层测试 | 70 Mb/s |
| 时钟/ 数据输入 | SMA |
| 配置 | 差分 |
| 阈值 | –2 V to +4 V |
| 端接电压 | –2 V to +3.3 V |
| 延迟范围 | 30 ns 或 1 UI |
| 延迟分辨率 | 0.1% UI 或 1 ps |
| 采样边沿 | 时钟的上升后者下降沿 |
| 灵敏度- 单端 | 60 mVp-p (典型值) |
| 灵敏度- 差分 | 40 mVp-p (典型值) |
| 检测使能 | SMA |
| 配置 | Single ended |
| 阈值 | –2 V to +4 V |
| 端接电压 | –2 V to +3.3 V |
| 功能 | 触发数据采集 |
| 触发输出 | BNC |
| 类型 | CLK/64 或码型 |
| 幅度 | >1 V |
| 误码输出 | BNC |
| 功能 | 32 比特脉冲 |
| 幅度 | >1 V |
| 标记输入 | BNC |
| 阈值 | TTL |
| 功能 | Error Analysis 定位 |
| *大频率 | 推荐4KHz |
| 消隐输入 | BNC |
| 阈值 | TTL |
| 功能 | 忽略误码 |
| 重新同步 | 在边沿触发(选件) |
| *小分辨率 | 32比特 |
| 数据类型 | |
| 伪随机 |
x7 + x6 + 1 x15 + x14 + 1 x20 + x17 + 1 x23 + x18 + 1 x31 + x28 + 1 |
| 用户自定义 |
96 位字长 - 8 Mb 32 位字长 |
| 重新同步 | |
| 手动 | 按钮或者消隐输入 |
| 自动 | 可程控的误码门限 |
| Grab 模式 | 找到重复码型 |
| Shift 模式 | 硬件码型搜索 |
| 数据捕获 | *多8Mb |
| 测量项目 | BER, bit, re-sync PG/ED clock frequency |
| 视图 | |
| Home view | 起始页 |
| Generator | 码型发生器设置 |
| Detector | 检测器设置 |
| Editor | 编辑码型、模板 |
| System | 系统工具 |
| Log | BER 测量日志记录 |
| 错误分析Error analysis | 标配 |
| Basic BER | 误码率测试统计 |
| 突发长度 Burst length | 码组长度分析 |
| Error-free interval | 间隔分析 |
| Correlation | 误码位置分析 |
| Pattern sensitivity | 码型分析 |
| Block mode | 每一个码组的误码分析 |
| Strip chart | BER 随时间的变化 |
| 物理层测试 | 选件 |
| 眼图 | 眼图显示 |
| BER contour | 眼图周围误码率等高线 |
| Mask test | 进行模板测试 |
| 抖动分析Jitter analysis | DJ/RJ/TJ 测量 |
| Q 因子分析Q-factor analysis | 设置和显示Q |
| Error Location Capture | |
| Live analysis | 连续实时数据分析 |
| Error logging capacity | *大2GB 文件大小 |
| Error events/s | 每秒10000 |
| *大码组长度 | 32 K比特 |
其他
| 性能 | 描述 |
|---|---|
| TFT 显示 | 640 × 480 VGA |
| 触摸屏 | 模拟电阻式 |
| 自测试 | 开机自测试 |
| 处理器 | 1.66GHz N455 |
| USB2.0 | 在仪器背面 |
| 硬盘 | 160 GB |
| 键盘 | 65 键USB |
| 内存 | 1G |
| 操作系统 | Windows XP |
| 打印口 | Centronix |
| 显示器输出 | DB-15 VGA |
| 鼠标 | USB |
| 远控 | IEEE-488 或 TCP/IP |
| 网卡 | 10/100/1000 MB 以太网 |
| 重量 | 36 lb. |
| 功耗 | 285W, 100-240 V AC |
| 尺寸 | 8.6 in. × 16.5 in. × 19.25 in. |
